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高頻紅外碳硫分析儀的空白值因素

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人氣:-發表時間:2015-06-12 10:17【

高頻紅外碳硫分析儀的空白值因素

高頻紅外碳硫分析儀在分析樣品時,除樣品材料外,參與分析的還有坩堝、助熔劑、氧氣等,盡管在燃燒之前對參與分析的各種材料進行過不同的方法處理,但這些材料中仍然含有微量的碳、硫成份。另外系統中吸附的微量二氧化碳、二氧化硫氣體在分析過程中同樣會釋放出來,這些我們統稱為系統空白值。高頻紅外碳硫分析儀在分析低含量試樣時,由于測量值很小,而儀器本身又存在著系統空白,這樣對測量結果可能引起較大的影響,故需扣除空白值方可測量。

從上可知引起高頻紅外碳硫分析儀系統空白的因素很多,不同時期由于材料批次不同,空白值也不相同,因此在分析低含量樣品時必須進行空白校正。下面我們推薦如下的測試空白方法,一般在校正值為1時測試空白值,用同一瓶氧氣,固定量的助熔劑及同一批處理好的坩堝,空白值基本一致。由結果計算公式[分析結果% = (分析過程的累加值/重量×校正系數-空白值)×斷點修正系數]可知,為獲得滿意的低含量分析結果,還需注意:測試空白值所鍵入的重量應與實際測試樣品的重量相同。


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var _hmt = _hmt || []; (function() { var hm = document.createElement("script"); hm.src = "https://hm.baidu.com/hm.js?44d5929b98ed1fd093ffc3d47ec712b9"; var s = document.getElementsByTagName("script")[0]; s.parentNode.insertBefore(hm, s); })();